三星4nm逻辑芯片测试生产良率已达40%以上

打开APP

08:53 三星4nm逻辑芯片测试生产良率已达40%以上

《科创板日报》17日讯，三星4nm逻辑芯片的测试生产良率已超过40%。由于该逻辑芯片是三星12层HBM4的关键组件，良率的提升预计将加速三星HBM4的开发。 (ChosunBiz)

阅读 53487

特别声明：文章内容仅供参考，不构成投资建议。投资者据此操作风险自担。